光学干渉式膜厚モニタ　フォトテクニカ株式会社
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光学干渉式膜厚モニタ

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  光学干渉式リアルタイム膜厚モニタ
光学干渉式リアルタイム膜厚モニタPDFファイル（英文）  光学干渉式リアルタイム膜厚モニタPDFファイル（和文） 
  Opto-electronics for Thin Film

光学干渉式リアルタイム膜厚モニター

【Avantes社製 】
光の干渉を利用した、薄膜の膜厚測定方式で、非接触でリアルタイムの測定が可能です。
非常に低価格です。
　
分解能：1nm
膜厚　：10nm-50μm　

専用ソフトウェアに一般的なマテリアルやコーティング材料の物性値がデータベース化されており、選択して使用できます。

★評価機をご用意しておりますので、お気軽にお問い合わせ下さい。
 

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