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AFM でのイメージ(5μm)
SEM でのイメージ(1μm) |
3D-RCW (Random Crossed-Wire)は、ラマン分光や蛍光イメージング用途向けにPTT社が開発したチップで、高い表面増強ラマン散乱(SERS)や表面プラズモン増強蛍光(SEF)効果が得られる 3次元、ナノ構造のランダム交差した銀製のナノワイヤーがチップのホットスポット(活性領域)に貼られており、ラマンシグナルを大幅に増強することができ、ラマン分光測定等に最適。
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AFM でのイメージ(5μm)
SEM でのイメージ(1μm) |
3D-RCW (Random Crossed-Wire)は、ラマン分光や蛍光イメージング用途向けにPTT社が開発したチップで、高い表面増強ラマン散乱(SERS)や表面プラズモン増強蛍光(SEF)効果が得られる 3次元、ナノ構造のランダム交差した銀製のナノワイヤーがチップのホットスポット(活性領域)に貼られており、ラマンシグナルを大幅に増強することができ、ラマン分光測定等に最適。
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