| フォトテクニカは、技術的に高度なナノテク、 イメージ及び光機器の製品を扱う専門商社として 輸入販売を中心に常に新しいハイテク製品の開発を心がけています。 今後も、ユーザーの要求に応えるべくアプリケーションとアフターサービスを充実させ、市場に 対応した輸入品のフロンティア商社として更なる発展を目指します。 |
![会社概要 [和文]](img/title/l_company.gif){kind=small}
PDF FILEを開くには、
Acrobat
Readerが必要です
イメージ |
 |
|
| 光学レーザ |
|
|
薄膜製品 |
|
|
| ● 新製品のご案内 | |||||
| *アプリケーション開発、産業用・医療用途向け 高出力フェムト秒ピコ秒レーザ | |||||
| (CARBIDE) Light Conversion 社製 | |||||
| アプリケーション開発や医療用途向けに高い信頼性と、よりシンプルで安価なフェムト秒ピコ秒レーザが求められています。定評のあるPHAROSの機能をそのままに、サイズを劇的に小型化した待望のCARBIDEを発表。2012年中の発売を予定しています。 62x32x15cm に、レーザ発振部、電源コントローラ、冷却系を集約した完全空冷の高出力フェムト秒ピコ秒レーザです。 PHAROS と比較して約85%の体積削減、約80%の省エネを実現。さらに、この最先端の性能を低価格でご提供いたします。 波長 1030nm にて4W＠～500kHz, 300fs ～10ps, 最大エネルギー100μJ |
 |
||||
|
|||||
| *高平均出力フェムト秒レーザシステム （PHAROS & ORPHEUS & LYRA） | |||||
| Light Conversion 社製 | |||||
| PHAROS の新シリーズ、高平均出力フェムト秒レーザ(15W@1MHz)を励起光源として、PC制御可変OPA(ORPHEUS)
と波長拡張ユニット(LYRA)を使用して、最大20μm まで波長可変が可能なシステムが新登場し、分光分析等に最適です。 また高エネルギータイプ（1.5mJ/pulse@3kHz）も加わり、パルス幅やシングルショットから1MHz の繰り返し周波数等のレーザパラメータ設定がPC やリモコンからハンズフリーで制御することができ、各種加工、アプリケーション開発や機器組み込みに最適です。 |  |
||||
|
|||||
| *新型ユニバーサルパワー・エネルギーモニター（M-LINK） Gentec-EO 社製 | |||||
| M-LINK はサーモパイル型、パイロエレクトリック型、フォトディテクター型、すべてのパワー及びエネルギーディテクターに対応できるPC制御の低価格モニターです。ユニークなノイズ制御アルゴリズムを採用していることにより、これまで難しかった低エネルギーの計測に優れた能力を有し、フェムトＪレベルの低エネルギーも正確に計測でき、最大30ｋＪまで１台で計測表示できます。 M-LINK はUSB ポートから専用ソフトによるPC 制御・計測表示・データ取得及び解析がリアルタイムに可能です。また外部トリガー機能を有しパルスレーザの同期に役立ちます。 パワーレンジ ： 4pW ～30kW エネルギーレンジ： 30fJ ～30kJ 最大繰り返し ； 1000Hz |
 |
||||
| |
|||||
 ■ 高度な液晶技術で真の画像処理を実現 今までにない明るさ、透明度、極めて高いコントラスト等の高度な技術で、バイオテクノロジー、ナノテクノロジーに欠かせないイメージ画像をご提供します。 
| ||||
|
 ■ 光応用機器の幅広い用途に対応 紫外から赤外に至る計測機器、豊富なラインナップの分光システム。 また、画像処理や生物物理に役立つ機器をご提供しております。 
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||
|
 |
||||||
|
||||||
 |
||||||
|
||||||
 |
||||||
|
||||||
|
|
||||||||||||
|
|
||||||
|
■ 膜厚測定・密着度測定の決定版 MASS(重量)変化を周波数変化で測定する膜厚計測装置及び薄膜密着度測定装置等、薄膜計測に最適なシステムをご提供しております。 
|
||||||
|
|
||||
|
||||
|
||||
|
|
||
|
| |
