レーザパワーディテクタ UPシリーズ他
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Gentec-EO社製レーザパワーディテクタは、あらゆる種類のレーザに対応し、UV～IRまで広範囲のスペクトル応答が可能。 サーモパイルまたはパイロエレクトリックパワーディテクタで、これらを使用して短いレスポンスタイムで計測が可能。 0.3nW~1000,000Wを測定する較正済レーザパワーセンサ。
How to Measure Power Below 1 mW with an XLP12 Video by Gentec-EO |
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投稿者: ptechnica
レーザエネルギーディテクタ QEシリーズ
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Gentec-EO社製レーザエネルギーディテクタは、パイロエレエクトリックエネルギーメータで ナノジュールから１パルスあたり数ジュール ( 最大測定可能エネルギー：1000J )まで測定する較正済レーザエネルギーセンサ。非常に広い範囲をカバーしている。
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FewCycle 測定用 スペクトル位相・強度測定解析装置 FC Spider
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FC-Spider
Spider Software
SHG FROG |
SPIDER法でシングルショットでの測定が可能となり、高度なアルゴリズムによりリアルタイムに位相測定が可能になった。 FC Spiderは、FewCycle 測定用のSPIDER でリアルタイム、 シングルショット測定対応他、ハイレベルの自動ソフトウェアにより、内部シャッター、フィルターなど制御可能。5fsからの極短パルスを正確に測定しスペクトルの位相・時間的強度などを解析できる。 FC Spider-VIS, FC Spider-NIR, FC Spider-IR が有る。
特長 ●スペクトルの位相・強度および時間的な強度を測定 ●USB接続
■FC Spider & Spider Software ●スペクトル位相の強度及び時間的な強度の再編成 ●インターフェログラムの復調の代わりのメソッド：フーリエ変換 ●E-field 測定 ●ピークパワー測定 ●位相差の計測 ●４段階のスペクトル位相解析 ●追加の論理的な散乱・分散のシュミレーション ●スペクトログラム及びパルスのウィグナーヴィレ分布 ●パラメータ ロギング ●自動読み取りやリモートアクセスの為のTCP/IP インターフェース
＊SPIDER法 自己相関法やFROG法では、位相測定に長く時間が掛かり過ぎ、位相の時間的揺らぎの大きいレーザでは、測定中に位相が変動してしまい正確な測定が不可能であった。 SPIDER法は、シングルショットでの測定を可能とし、また非常に高速な解析アルゴリズムにより、ほぼリアルタイムに位相測定が可能なパテント技術。
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高調波発生ユニット Harmoni XX （SHG/THG/FHG）, Harmoni XX DFG
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HarmoniXX
TiSaレーザ励起SHG出力
TiSaレーザ励起SHG,THG, FHG 2+2出力
HarmoniXX DFG
Levante IR励起のfs出力
HarmoniXX Select SHG
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Harmoni XX は、フェムト秒・ピコ秒レーザや増幅器の高調波を高効率で発生する事ができる波長変換モジューラーシステム。 ステッパーモーターを組み込むことで高精度な波長調整を可能にし、波長の切り替えをより速く、より簡単に、そして広帯域の波長レンジに対応出来るようにアップグレードを繰り返して、現在では市場で一番広帯域に対応している。 オプティクスの切り替えを瞬時に行うことで、フェムト秒からピコ秒の広範囲のパルス幅に使用可能で、Tiサファイアレーザを含む各種のレーザパワーを高効率で変換出来るように光学設計されている。 また、周波数可変 fs/ps レーザ、周波数固定 fs/ps レーザの双方に対応できる。
特長 ●高い変換効率 ●アライメントが簡単、自動波長チューニング機能 ●周波数可変 fs/ps レーザ、周波数固定 fs/ps レーザに対応 ●最良のビームプロファイルにて極小パルスを表示 ●高いビームポインティングスタビリティー(高い安定性）と良いビームプロファイル ●高性能ソフトウェアGUIにより、PCから直接リモート操作が可能 ●ボタンを押すだけで自動出力調整が可能（オプション）
◆ウルトラファーストレーザ仕様
◆TiSa(チタンサファイア)レーザ仕様
Harmoni XX DFG はシンクロナスポンプOPOの出力を変換して中赤外(MIR)レンジにする為に光学設計されたもの。 OPOシグナル出力にチューニングしたとき、簡単にDFG出力に変換できる。
特長 ●高出力、高変換効率 ●出力波長： 4～15μm (MIR) ●ビームオーバーラップの為の洗練されたアライメント ●簡単な波長チューニング ●fs～ps 入力が簡単に出来るフレキシブルな構造 ●ジッターの無い安定したOPO出力を維持
HarmoniXX Select SHG は、フェムト秒・ピコ秒レーザや増幅器の高調波を高効率で発生する事ができる波長変換モジューラーシステムのHarmoniXX SHG とpulse picker のpulseSelectを１つの筐体に組みこんだ製品。
特長 ●第二高調波(SHG)の発生とパルスピッカ―を１台で行える ●入力波長域： 660nm～1320nm ●330～660nm内のSHGの波長操作を簡単に行なえる ●シングルショット～40MHzまでの繰返し周波数を調整可能 ●優れた変換効率でパルスを ●外部トリガー機能：シングルショット～3MHz |
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薄膜密着力の数値化が出来る 密着強度測定機ロミュラス ROMULUS
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Romulus-USB
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ROMULUSは、米国Quad Group社によって独自に開発された薄膜の密着強度を正確に測定することができる装置。 (以前のSebastian Vの後継機種) ROMULUSの基本はワークステーション方式で、プラットフォームと各種のテストに応じたモジュールを選別する事でニーズに合った計測を行うことが出来る。 USB接続のノートパソコン（制御・計測用ソフトウェア搭載）型にリニューアルし、より使い易く便利になった。
◆密着強度測定用 ROMULUS：ユニバーサルメカニカル強度テスター ●Pull Down Bleaking Point プラットフォーム使用：下方へ機械的に荷重を掛けていくモジュールと試料を支えるモジュールから構成 ●stud pull test 用モジュールで薄膜密着強度測定を簡単に行なう事が出来る コーティング膜の基板に対する密着強度のスタッドプルテスト（Stud Pull Coating Adherence） ●最大引張り荷重 = 100 Kg （オプション 200kgまで対応可能） ●試料の材料・材質に応じて各種のスタッドピン、補助用のバッキングプレートが選べる（消耗品参照） 概要 独自のスタッドピンをエポキシ接着剤で試料の表面に装着して、PC制御で荷重を掛けて引っ張り下し、剥離が生じた時点での密着力を定量的に計測し、数値化することができる。
特長 ●PC制御により引っ張りおろし、剥離した時点を計測するテスト ●各種のコーティング膜：カラーフィルター、レジスト膜、Low-k膜、酸化膜、メッキ膜、薄膜太陽電池膜、DLC膜などの密着性測定 ●張り合わせた複合基板の密着力テスト ●接着剤等、粘着、溶着の強度テスト
■自動化されたフォースアプリケーションにより、モジュールの交換で６種類のテスターとして使用可能。(Pull-down Platform) ●レジスト膜、めっき膜、DLC膜等の薄膜密着強度 ●ダイの接着強度、こんぽーねんとに接着された表面強度 ●硬質基板に固定されたコンポーネントまたはダイのせん断強度 ●硬質材料の曲げ強度、たわみ特性、薄膜剥離ひずみ強度 ●複合材の接着強度 ●ワイヤーの伸び度ワイヤーや繊維等のひずみと強度
■プラットフォームを(Pull-up Platform)に替える事により、剥離試験(Peel Test)が可能。 ●180°硬質/フレキシブル基板の剥離強度 ■更にプラットフォームを(Stylometer)に替える事で引っ搔き試験(Scratch Test)が可能 ●引っ搔きによる薄膜密着強度(Diamond Scratch Test)
◆Winzea2.0ソフトウェア PC(Windows 10対応）に導入して簡単に操作でき、ロミュラスシステムの基本であるpull downプラットフォーム使用の密着強度測定（引っ張り試験）を始めとして、種々のアプリケーション計測にも対応出来る。各テスト用プラットフォームやモジュールを使用する場合は、それらをロミュラス本体に正しく設置した後、メインメニュー画面からその機器を選択するだけで、各テスターの操作が可能。
★Romulus 薄膜密着強度測定機についての詳しい説明は是非こちらをご覧ください。
★装置のご購入をご検討頂ける場合は、サンプルテストにてお試し頂けます。 サンプルをお預かりして測定し、データを添えて返却いたします。
【下取りのご案内】 最新モデルの導入をして頂ける場合、旧モデルを下取りさせて頂きます。
ロミュラス/セバスチャン用消耗品仕様一覧
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光学干渉式膜厚モニター AvaThinfilm
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AvaThinfilm |
AvaThinfilmは、光の干渉を利用した薄膜の膜厚測定方式で、非接触でリアルタイムの測定が可能。（ファイバー入射型分光器利用の膜厚測定）分光器、重水素ハロゲン光源、反射プローブ等の構成で薄膜で起こる干渉パターンと、試料の物性値から膜の厚みを計測。非常に低価格なので気軽に使用できる。 本体はファイバー入射型分光器なので、他の光計測に利用できる。
特長 ●非接触でリアルタイムに計測 ●専用のソフト(AvaSoft-ThinFilm)に一般的なマテリアルやコーティング材料の物性値がデータベース化されており、選択して使用可能。
★最新のシステム構成： ◆分光器：AvaSpec-VARIUS-2K （ Grating UA (200～1100nm), 100μm slit, DCL-UV/VIS-200, OSC-UA ) ◆専用ソフト：AvaSoft-Thinfilm ◆光源：AvaLight-DHc (PS-12V/1.0A付） ◆ファイバー：FCR-7UVIR200-2-ME 反射プローブ ◆ステージ：ThinFilm stage
膜厚測定のやり方 No.1 (Avantes 社提供 video）
膜厚測定のやり方 No.2 (Avantes社提供 video)
半導体関連の応用計測 （Avantes社提供 Video)
★評価機をご用意しておりますので、お気軽にお問合せ下さい。
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CO2 ジェット表面洗浄器 CO2 Snow Jet Cleaner
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標準ユニット(K1-10) on/off Gun, 3m ホース, CO2メーター(0-2000psi), 0.5μmフィルター,シリンダー, 非対称ベンチュリノズルと 低圧力ノズル付き
高純度ユニット(K4-10) ダイヤフラムバルブ, 3m ホース,0.01μmフィルター, 非対称ベンチュリノズルと 低圧力ノズル付き
ソレノイド制御オプション (K4-10S),フットスイッチ オプションも有り
2インチ大口径ノズル (Slot Nozzle)
K1-10-Art
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CO2 Snow Jet Cleanerは、サンプル作成時に最適なジェットクリーナー。 CO2ガスのジェット噴射技術により物質表面のゴミ粒子、指紋などの油成分、高分子化合物等をミクロン以下の単位まで除去する。ジェット噴射機器により、CO2がドライアイス状の粒子となり物質（対象物）の敏感な表面に対し非接触で洗浄する為、対象物を傷つけることもなく、破壊せず、残留物も化学的汚染も生じない。
用途 ■美術品の汚れ、真空チャンバー内の汚れ等の除去
◆Siウエハーはマイクロチップがあらゆる物に使用されている現代において最も重要な用途の1つと言える。標準ユニット又は高純度ユニットで対応可能。
Si基板上の指紋洗浄例 （顕微鏡画像）
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分光器の応用計測システム 吸収計測 Absorbance measurements
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UV-VIS absorbance
AvaSoft-CHEM
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UV/VIS/NIR 吸収・透過測定 はAvaSpec、光源、ディッププローブ等の構成で行える。
■分光器：AvaSpec-ULS2048CL-EVO 又はAvaSpec-Mini-NIR 高S/Nのパフォーマンスを希望する場合はAvaSpec-ULS2048XL-EVO さらに高感度・高波長分解能の計測には AvaSpec-HERO が最適 ■光源：AvaLight-DH-S(-BAL) ■ソフトウェア：AvaSoft-Full & AvaSoft-CHEM ■ファイバー：FDP-7UVIR200-2-VAR (ディッププローブ) 又は FC-UVIR200-2-SR (2本）
★Absorbance bundle （吸収測定用のセットアップ）は通常の吸収測定に対応可能
用途 ●流体の色付け ●インライン測定 ●試験管やフラスコ内の液体の色の測定
◆AvaSpec-Mini-NIRを使用した吸収計測のやり方
◆AvaSpec-HERO 高感度・高波長分解能分光器を使用した吸収計測
＊AvaSpec-HEROの詳細は こちらから |
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レーザ結晶 ( Ti:Sapphire, Nd:YAG, yb:KGW/KYW, Co:spind )
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Ti:Sapphire結晶
Nd:YAG 結晶
yb:KGW/KYW 結晶
Co:spind 結晶 |
Altechna社は1996年に創設され、レーザ関連のコンポーネンツである、ミラー・結晶等の取扱いを開始し、科学ベンチャー企業として新技術・発明をオープンにして光技術の世界的トレンドを形成していき、ビジネスネットワークを構築していくことを目指して発展。 2004年には最初のレーザーマイクロファブリケーションシステムを取り扱い、2010年には計測ラボを作り品質向上をめざし、2013年ついにレーザ関連のコンポーネンツの自社製造を開始し、すべての製造工程で細部に渡り最高の品質を求めている。
■レーザ結晶 ( , Nd:YAG, Nd:KGW, Yb:KYW )
◆Ti:Sapphire結晶 ウルトラショートパルス生成に最適で、フェムト秒可変レーザに使用
◆Nd:YAG 結晶 標準的なレーザ光源に一番使用されている
◆yb:KGW, yb:KYW 結晶 100fs以下のウルトラショート高出力パルスの生成に最適で、フェムト秒アンプや高出力薄膜ディスクレーザに使用。また高スロープ効率でダイオードの励起が可能。 特長 ●981nmにてコヒーレント光の高吸収率 ●高い誘導放出断面積 ●低い発振闘値 ●極めて低い量子欠損（1％以下） ●広いアウトプット帯域（1020～1060nm) ●高いスロープ効率でダイオード励起が可能 ●高いyb添加濃度
◆Co:spind 結晶 比較的新しい結晶で、Erガラスレーザ(1.54μm)に使用 |
分光器の応用計測システム 発光計測 Irradiance measurement
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Irradiance
AvaSoft-Irrad
OES：発光分光分析
AvaSpec-multi-CH |
発光測定は街灯などの自由空間での計測から、パルス化された太陽光発電のシュミレーター計測にいたる各種の放射量を測定するもので、分光器・光源・発光用専用ソフトウェア、そして積分球などのアクセサリーを使用して計測出来る。Avantes社の発光専用ソフトウェアは放射量・光量・量子量・カラー等を計測でき、放射照度較正用の光源と共に較正機能を装備している。
■分光器：AvaSpec-ULS2048CL-EVO (UV/VIS), AvaSpec-NIR256-2.5HSC-EVO (NIR) ■光源：AvaLight-DH-CAL (UV) AvaLight-HAL-CAL (VIS/NIR) 較正：IRRAD-CAL-UV, IRRAD-CAL-VIS, IRRAD-CAL-NIR ■ソフトウェア：Avasoft-fULL & AvaSoft-IRRAD ■アクセサリー：AvaSphere-IRRAD(積分球) 又は CC-VIS/NIR(コサインコレクター) ■ファイバー：FC-UVIR-200-2
★Irradiance Bundle ( 発光計測 セットアップ）はソーラーパネルの発光状況を調べたり、一般的な光の計測用に対応。
◆発光測定のやり方
◆付加製造(additive manufacturing)用、発光分光分析:OES(Optical Emission Spectroscopy) 3Ⅾプリンターのモニター等でプロセスコントロールに利用する事が可能。 ■AvaSpec-ULS4096CL-EVO 200～400nm, grating3600 にて計測がお勧めで、4～10chのAvaSpec-multi-Channel構築により、高速多チャンネルプロセスコントロールが可能。
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